Elektronikos komponentų testavimo linijos automatizavimas

Miskelis, Lukas

Dspace pagrindinis
→
Studentų baigiamieji darbai - Studijų programos
→
automatinis valdymas
→
Peržiūrėti elementą

dc.contributor.author	Miskelis, Lukas
dc.date.accessioned	2020-07-15T11:46:32Z
dc.date.available	2020-07-15T11:46:32Z
dc.date.issued	2020-06-26
dc.identifier.uri	http://dspace.kaunokolegija.lt//handle/123456789/3472
dc.description	The object of the paper - Electronic components testing line. The purpose of the paper - Automation ef electronic components testing line. The results of paper. Electronic components testing line as object of automation was analyzed. An object automation scheme has been created. Required automation devices was chosen. The electrical scheme of the object and the device layout of automation panel have been designed. An algorithm has been created and PLC program for object control has been created. The calculation of the project estimate has been performed. Human safety requirements were described/ The volume of the paper. The paper includes 49 pages, 8 tables, 24 figures illustrations, 10 literature sources and 21 appendixes.	en_US
dc.description.abstract	Darbo objektas – elektronikos komponentų testavimo linija. Darbo tikslas – elektronikos komponentų testavimo linijos automatizavimas. Darbo rezultatai. Išanalizuota elektroninių komponento testavimo linija. Sudaryta objekto automatizavimo schema. Pasirinkti tinkami automatizavimo prietaisai. Suprojektuota objekto elektrinė schema ir prietaisų išdėstymas automatikos skyde. Sudarytas algoritmas ir sukurta PLV programa objekto valdymui. Atliktas projekto sąmatos skaičiavimas. Numatyti žmogaus saugos reikalavimai. Darbo apimtis. Darbą sudaro 49 puslapiai, 8 lentelės, 24 paveikslai, 10 literatūros šaltinių, 21 priedas.	en_US
dc.language.iso	other	en_US
dc.subject	Automatinis valdymas; automatizavimas; testavimo linija; elektronikos komponentai; PLV.	en_US
dc.title	Elektronikos komponentų testavimo linijos automatizavimas	en_US
dc.title.alternative	Automation of Electronic Component Testing Line	en_US
dc.type	Other	en_US